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Agar Scientific tungsten filaments for SEM and TEM
High quality replacement tungsten filaments for Cambridge, LEO, Zeiss, AEI, FEI, JEOL, Siemens, Camscan, ISI electron and TESCAN electron microscopes.
Conductive carbon adhesive tapes
Electrically conductive, non-porous carbon tapes suitable for SEM or EDX applications.
SEM Specimen Stubs
Amray, Cambridge Analysis, Cambridge, Deben, FEI-ESEM, Hitachi, ISI/ABT/Topcon, JEOL, LEO/Cambridge, FEI/Philips, Camscan, TESCAN, Zeiss and LEO/Zeiss.
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