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Leica EM RES102
EM RES102는 시료를 Thin, Clean, Polish, Cut slope 및 Structure하는데 최적화 되어 있으며, Bench-Top 장비에 TEM, SEM, 및 LM 시료 전처리 기능이 결합된 유일한 이온밀링 시스템입니다.
이온 빔 밀링 시스템 Leica EM RES102는 여러 샘플 홀더를 사용하여 각종 다양한 어플리케이션이 수행될 수 있으며, 고에너지 뿐만 아니라 저에너지를 이용하여 매우 완만한 시료 전처리에도 사용할 수 있습니다.


제품설명

기술적으로도 경제적으로 효율적인 시스템 


 

· TEM, SEM 및 LM 시료의 전처리가 하나로 결합된 시스템


· 최대 지름 25mm의 SEM 샘플 전처리 가능


· TEM 분석을 위한 대형 전자 투명 영역의 생산과 TEM 샘플 준비 개선 효과


· 원격 제어 및 모니터링을 위한 LAN 기능



안전성
Leica EM RES102 | Products | Leica Microsystems 
이온 빔 밀링 시스템 Leica EM RES102는 이온 소스 및 샘플 이동을 프로그램으로   
제어함으로써 안전하고 재현성 있는 결과를 제공합니다.


온도에 민감한 시료에 최적화  

 

이온빔 밀링 시스템 Leica EM RES102는 온도에 민감한 샘플 보존을 위한  
LN2 시료 stage장착이 가능합니다.  


 


편리한 조작

TEM, SEM, LM 시료를 위한 이온 빔 밀링 시스템 Leica EM RES102 : 네이버 블로그 


· 통합 애플리케이션 라이브러리


· 초보자 및 유지 보수를 위한 통합 사용 지침 동영상 및 helpfile 내장


 


- 카달로그

Leica EM RES102


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전화문의
02-923-3881
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